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半導體/封裝檢查設備
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晶圓盒檢測機
產品詳細介紹
[概要]
可測量晶圓盒(FOUP/FOSB/OC)的外徑,即使晶圓已置入盒內也能進行測量。
可從不同角度測量並檢查晶圓盒的top flanges 、 side forklift flanges 、 wafer mounting step pitch ,以及定位pinholes 。
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